测量的核心技术是什么

说白了就是LCR测试仪+上位机软件配合。国内的LCR测试仪，可以选常州国峰，测试频率可以从4HZ~10MHZ

《计算机测量与控制》是中国科技核心期刊、中文核心期刊。投稿的话应该主要是数采与处理技术、智能仪表与传感器技术、新产品信息发布方面的信息，投稿信箱是，主要栏目有：专家论坛、综述与评论、自动化测试技术、控制技术、军事装备测控技术、试验与评价技术、算法/设计与应用技术、软件工程技术。既然是国际核心期刊，应该不会太容易的过吧。你可以联系下我上面发的邮箱，他们专门代发论文的，通过率很高，祝你好运啊。如果还有什么疑问可留言。

当然不是的，中国的企业不断在发展，对核心技术的研究开发能力不断增强，民营企业中生产制造但坐标测量机的青岛弗尔迪，就是非常专业的三坐标生产商的，你可以去了解下的。

光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明 SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。 测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。 仪器的光源使用TungstenLamp，波长范围是400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这种原理，测量面积的直径大小是4μm ~ 40μm (2μm ~ 20μm optional)。ST8000-Map作为K-MAC (株) 最主要的产品之一，有image processs功能，是超越一般薄膜厚度测量仪器极限的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的最小直径为2μm，远超过一般厚度测量仪器的测量极限 (4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图 (Thickness Map) 也可一次测量得到，使速度和精确度都大大提高。这一技术已经申请专利。 韩国K-MAC (株)SpectraThick series的又一优点是一般仪器无法测量的粗糙表面 (例如铁板，铜板) 上形成的薄膜厚度也可以测量。这是称为VisualThick OS的新概念上的测量原理。除测量薄膜厚度外还有测量透射率，玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻，接触角度 (Contact Angle) 等的功能，目前国内外知名的半导体行业及光刻胶等相关行业的很多企业都选择K-MAC膜厚仪，广州市金都恩科精密仪器有限公司是中国区总代理，进入企业网站可以详细了解。 产品说明 本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为 In-Line monitoring 仪器使用。 产品特性 1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。 2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。 3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。 4) 可测量 3层以内的多层膜。 5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。 6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。 7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stagesize 3“ ) 8)Table Top型, 适用于大学,研究室等

SMT智能首件检测仪，是用来做SMT首件检测的一种机器，该设备的原理是将要做首件的PCBA通过整合BOM表、坐标及高清扫描的首件图像自动生成检测程序，快速准确的对元件进行检测，并自动判定结果，生成首件报表，达到提高生产效率及产能，同时增强品质管控的目的。产品优点:节省人员：由2人检测改为1人检测。提高效率：首件检测提速2倍以上，测试过程无需切换量程，无需人工对比测量值。可追溯性：自动生成首件检测报告，并可还原检测场景。更加准确：使用高精度LCR测试仪代替万用表。纠错功能：BOM自检，BOM与坐标数据双向对比,快速纠错。功能亮点:可使用设备自带扫描设备获取PCBA高清图形元件检测顺序可由软件自动跳转也可以人工控制可按元件类别检测或指定某规格元件进行检测检测PASS和FAIL均有声光报警提示可依据个人操作习惯选择键盘和脚踏板标准图（或位置图）与PCBA实例图同步放大显示，彻底抛弃纸质位置图检测数、漏测数、PASS数、FAIL数等统计信息实时显示，杜绝漏测现象发生更加便捷的人工判定及不良原因记录方式更加方便的元件查找、定位方式更加快速的图像定位、旋转、放大、缩小提供中英文报表格式快速导入BOM及XYDBOM自检及XYData与BOM的双向对比查找错漏支持双面坐标导入仅选择一面进行检测更灵活的参数定义方式，支持来料加工企业多样式的BOM 采用AOI技术进行全自动对比元件极性、方向、丝印，准确可靠。支持用户权限定义，防止误操作18 测试报告可以上传至MES或ERP服务器，方便查看。 采用分布式服务器模式，多台FAI可以共享一台服务器程序。具体可以参考：

我们厂买过，总体就是有减人增加效率的效果，那个仪器可以自动测试和识别元器件是否合格，自动判定结果。误差比较小，现在各行业都智能化了方便先进，你可以看看深圳首件厂家了解下，我是在深圳星德斯科技买的，性价比还可以吧